Oggi è il 14 dicembre 2017
Direzione Giornalistica: ANNA BRUNO 
 

National Instruments presenta l’analizzatore e il generatore di segnale vettoriale PXI Espress a 6,6 GHz

I nuovi strumenti modulari RF uniti allo chassis PXI Express forniscono misure wireless veloci e flessibili
National Instruments ha annunciato l’uscita di un nuovo analizzatore di segnale vettoriale RF, un generatore di segnale vettoriale RF e uno chassis PXI Express a 18 slot in grado di fornire misure RF flessibili fino a 10 volte più veloci rispetto alla strumentazione tradizionale RF. L’offerta dei nuovi strumenti modulari definiti via software – l’analizzatore vettoriale di segnale RF PXIe-5663 a 6,6 GHz e il generatore di segnale vettoriale RF PXIe-5673 a 6,6 GHz – si completa grazie al nuovo chassis a 18 slot ad elevata ampiezza di banda PXIe-1075. NI PXIe-5663 è in grado di effettuare l’analisi dei segnali da 10 MHz a 6,6 GHz con un'ampiezza di banda istantanea di 50 MHz. PXIe-5673 consente di generare segnali da 85 MHz a 6,6 GHz e garantisce un’ampiezza di banda istantanea fino a 100 MHz. PXIe-1075 è il primo chassis PXI Express del settore industriale con linee PCI Express connesse ad ogni slot, in grado di fornire un’ampiezza di banda fino a 1 GB/s per slot e fino a 4 GB/s totali.

I nuovi strumenti modulari RF sfruttano appieno le elevate prestazioni dei processori multicore, rappresentando la scelta ideale per ambienti di test RF ad alta velocità e wireless automatizzati. Utilizzando LabVIEW 8.6 per l'esecuzione di algoritmi di misura paralleli sui processori multicore, il nuovo analizzatore di segnale vettoriale RF e il nuovo generatore di segnale vettoriale RF sono in grado di eseguire comuni misure RF a una velocità di gran lunga superiore rispetto agli strumenti tradizionali. Ad esempio, gli strumenti modulari RF sono in grado di eseguire diverse misure WCDMA a una velocità 20 volte superiore alla strumentazione tradizionale. Grazie alla possibilità di implementare misure tipo ACLR (adjacent-channel leakage ratio) in solo 8 ms, è possibile eseguire la caratterizzazione di dispositivi WCDMA a una velocità fino a 5 volte superiore.

È possibile inoltre utilizzare questi dispositivi per eseguire rapidamente misure comuni. Ad esempio, una tipica scansione di uno spettro di 50 MHz con resolution bandwidth di 30 kHz impiega meno di 4 ms con un controller NI PXIe-8106, rispetto ai 100 ms o più con la strumentazione tradizionale. Con la diffusione dei nuovi processori multicore, i tempi delle misure RF continuano a diminuire senza bisogno di apportare modifiche alla strumentazione RF o alla programmazione LabVIEW, assicurando pertanto massime prestazioni, maggiore durata del sistema e minore investimento di capitale.

Oltre alle prestazioni, i nuovi strumenti modulari RF forniscono la maggiore flessibilità di misura nel settore industriale, tramite un’architettura totalmente definita via software. È possibile sviluppare e testare i protocolli wireless semplicemente riconfigurando il software mediante i toolkit specifici di LabVIEW e scrivendo i propri algoritmi di modulazione personalizzati. National Instruments e i propri Alliance Partner forniscono toolkit basati su LabVIEW per le svariate tecnologie di comunicazione attuali ed emergenti, incluso WiMAX, GPS, WCDMA, GSM, EDGE, trasmissione video, 802.11, Bluetooth, OFDM e MIMO. Inoltre, è possibile integrare strumentazione PXI RF con oltre 1500 moduli PXI, inclusi digitalizzatori ad alta velocità, generatori di segnale e strumenti DC di precisione per soddisfare le proprie esigenze di test.

I nuovi strumenti modulari a 6,6 GHz raggiungono questi nuovi livelli di prestazioni mediante le ultime tecnologie commerciali inclusi di convertitori DAC e ADC 16 bit impiegati per generare e digitalizzare i segnali per prestazioni dinamiche superiori. Mediante upconversion RF diretta, il generatore vettoriale RF NI PXIe-5673 dispone di un’ampiezza di banda RF di 100 MHz. Utilizzando una modalità aggiuntiva di correzione dei difetti, è possibile sfruttare il chip FPGA a bordo scheda per regolare manualmente gain imbalance, IQ offset e quadrature skew. Ottimizzando questi parametri per una particolare frequenza è possibile ottenere una soppressione della portante e dell’immagine migliore di -85 dBc. L’analizzatore di segnale vettoriale RF PXIe-5663 offre flatness passabanda e basso rumore di fase per la misura accurata di segnali modulati. Ad esempio, le tipiche prestazioni EVM per la tecnologia WCDMA sono pari allo 0,8 percento a 2 GHz per oltre 2600 simboli. Inoltre, le tipiche prestazioni EVM per il WiMAX sono pari a -52 dB a 3,8 GHz.

“Ora è possibile sfruttare le prestazioni della strumentazione RF realmente definita via software e basata su LabVIEW e sulla piattaforma PXI,” afferma Joseph E. Kovacs, senior RF and communications manager presso National Instruments Con l’ampiezza di banda di PXI Express e le funzionalità di elaborazione parallela dei processori multicore, la velocità dei test di sistema aumenta con l’evolversi della tecnologia. Oggi, i nostri clienti sono favoriti da un aumento della velocità di 10 volte rispetto agli strumenti tradizionali, nonché dai miglioramenti che verranno apportati con la diffusione di processori a più core.

Lo chassis a 18 slot PXIe-1075 fornisce otto slot ibridi da utilizzare sia per moduli PXI Express sia per moduli PXI ibridi per ottimizzare il riutilizzo dei moduli PXI esistenti. Progettato per sistemi ad elevate prestazioni, lo chassis PXIe-1075 presenta una temperatura di funzionamento compresa tra 0 e 50 gradi Celsius e offre funzionalità integrate di monitoraggio di sistema quali la gestione dell'alimentazione, dello stato del dissipatore e della temperatura per l'intero chassis.

Per maggiori informazioni sui nuovi strumenti modulari RF a 6,6 GHz e sullo chassis PXI Express a 18-slot, visita il sito www.ni.com/rf/platform.

PXI e gli Strumenti Modulari
PXI (PCI eXtensions for Instrumentation) è una specifica aperta regolata dal PXI Systems Alliance (www.pxisa.org) che definisce una robusta piattaforma di strumentazione modulare basata su PC, ottimizzata per i test, la misura e il controllo automatizzati. Nata nel 1997, la specifica PXI è supportata da più di 70 produttori e con una disponibilità di oltre 1500 prodotti PXI. Grazie agli strumenti modulari PXI è possibile esprimere in dettaglio le funzionalità richieste da innumerevoli possibili applicazioni – scegliendo da una vasta gamma di moduli di misura, generazione di segnali RF, moduli di potenza e switch. Gli strumenti vengono poi configurati opportunamente via software per soddisfare specifiche esigenze applicative. PXI e strumentazione modulare consentono l’esecuzione di test ad elevata velocità sfruttando le potenzialità di tecnologie PC standard industriali e tecnologie avanzate di temporizzazione e sincronizzazione. La famiglia di prodotti comprende:
•Digitalizzatori/oscilloscopi (sino a 24 bit, sino a 2 GS/s, sino a otto canali)
•Generatori di segnali (sino a 16 bit, 200 MS/s)
•Generatori/analizzatori di forme d'onda digitali (sino a 400 Mb/s)
•Generatori e analizzatori di segnali RF (sino a 6.6 GHz)
•Multimetri digitali (sino a 7½ cifre, LCR)
•Unità di misura/sorgente (sorgente a quattro quadranti, risoluzione 1nA)
•Alimentatori programmabili (sino a 20 W, 16 bit)
•Analizzatori dinamici di segnale (sino a 24 bit, 500 kS/s)
•Sistemi di commutazione (multiplexer, matrici, general-purpose e RF)

Informazioni su National Instruments
National Instruments (www.ni.com) sta rivoluzionando il modo in cui tecnici ed ingegneri possono progettare, prototipare e distribuire sistemi per la misura, l’automazione e le applicazioni embedded National Instuments distribuisce software commerciale come l'ambiente di sviluppo grafico NI LabVIEW e hardware modulare a costi ridotti ad oltre 25000 diverse società in tutto il mondo. Nessuno tra i clienti di National Instruments contribuisce per oltre il 3% e nessun mercato per più del 10% del fatturato complessivo, garantendo all’azienda grande stabilità e consistenza. La sede di NI si trova ad Austin, Texas, e l’azienda ha oltre 4800 dipendenti e filiali in 40 paesi . Nel corso degli ultimi nove anni, la rivista FORTUNE ha indicato NI come una delle 100 migliori aziende presso cui lavorare negli USA.

Per ulteriori informazioni stampa:

Pietro Guagliardo
Media Coordinator
National Instruments Italy srl
Tel 02-41309275
pietro.guagliardo@ni.com


Ulteriori contatti:

Nadia Albarello
Marketing Communications Manager
National Instruments Italy srl
Tel 02-41309257
nadia.albarello@ni.com
 

Autore: Pietro Guagliardo
Link: http://zone.ni.com/devzone/cda/tut/p/id/7730#toc1
News inserita in: Software
Pubblicato il: 27 agosto 2008


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